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Singh, Adit D. (3)
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Erscheinungsjahr
1999
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1998
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Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
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Sprache
Englisch
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A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element
(1999)
Singh, Adit D.
;
Sogomonyan, Egor S.
;
Gössel, Michael
;
Seuring, Markus
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1999)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
1
bis
3
Verstanden ✔
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