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Diffraction Enhanced Imaging Analysis with Pseudo-Voigt Fit Function

  • Diffraction enhanced imaging (DEI) is an advanced digital radiographic imaging technique employing the refraction of X-rays to contrast internal interfaces. This study aims to qualitatively and quantitatively evaluate images acquired using this technique and to assess how different fitting functions to the typical rocking curves (RCs) influence the quality of the images. RCs are obtained for every image pixel. This allows the separate determination of the absorption and the refraction properties of the material in a position-sensitive manner. Comparison of various types of fitting functions reveals that the Pseudo-Voigt (PsdV) function is best suited to fit typical RCs. A robust algorithm was developed in the Python programming language, which reliably extracts the physically meaningful information from each pixel of the image. We demonstrate the potential of the algorithm with two specimens: a silicone gel specimen that has well-defined interfaces, and an additively manufactured polycarbonate specimen.

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Verfasserangaben:Deepak ManiORCiD, Andreas KupschORCiD, Bernd R. MüllerORCiD, Giovanni BrunoORCiDGND
DOI:https://doi.org/10.3390/jimaging8080206
ISSN:2313-433X
Pubmed ID:https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/35893084
Titel des übergeordneten Werks (Englisch):Journal of imaging : open access journal
Verlag:MDPI
Verlagsort:Basel
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Datum der Erstveröffentlichung:23.07.2022
Erscheinungsjahr:2022
Datum der Freischaltung:06.03.2024
Freies Schlagwort / Tag:Pseudo-Voigt fit function; Python; X-ray refraction;; analyzer-based imaging; diffraction enhanced imaging; non-destructive evaluation
Band:8
Ausgabe:8
Aufsatznummer:206
Seitenanzahl:13
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
DDC-Klassifikation:5 Naturwissenschaften und Mathematik / 52 Astronomie / 520 Astronomie und zugeordnete Wissenschaften
5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik
Peer Review:Referiert
Publikationsweg:Open Access / Gold Open-Access
DOAJ gelistet
Lizenz (Deutsch):License LogoCC-BY - Namensnennung 4.0 International
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