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Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Martin, C. R.
;
Geue, Thomas
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
Comparison of theoretical and experimental structure amplitudes of GaAs
(1998)
Stahn, Jochen
;
Möhle, Marcus
;
Pietsch, Ullrich
Critical pionts in a crystal an procrystal
(1998)
Tsirelson, Vladimir G.
;
Abramov, Yury Fedorovich
;
Zavodnik, Valerie E.
;
Stash, Adam I.
;
Belokoneva, Elena L.
;
Stahn, Jochen
;
Pietsch, Ullrich
;
Feil, Dirk
Electric field induced electron density response of GaAs and ZnSe
(1998)
Stahn, Jochen
;
Pucher, Andreas
;
Geue, Thomas
;
Daniel, A.
;
Pietsch, Ullrich
In-plane strain and strain relaxation in laterally patterned Si/SiGe quantum dots and wire arrays
(1998)
Darowski, Nora
;
Lübbert, Daniel
;
Pietsch, Ullrich
;
Zhuang, Y.
;
Zerlauth, S.
;
Bauer, Günther
Influence of the deposition rate on the structure of thin metal layers
(1998)
Haier, P.
;
Herrmann, B. A.
;
Esser, N.
;
Pietsch, Ullrich
;
Lüders, K.
;
Richter, W.
Investigation of strain relaxation in GaInAs/GaAs superlattices by x-ray diffuse scattering
(1998)
Ulyanenkov, A.
;
Klemradt, U.
;
Pietsch, Ullrich
Investigation of the vertical molecular exchange in a complex organic multilayer system
(1998)
Englisch, Uwe
;
Penacorada, Florencio
;
Samoilenko, I.
;
Pietsch, Ullrich
Nondestructive analysis of a lateral GaAs nanostructure buried under AlGaAs using conventional high resolution and grazing incidence X-ray diffraction
(1998)
Darowski, Nora
;
Pietsch, Ullrich
;
Zeimer, Ute
;
Smirnitzki, V.
;
Bugge, F.
Structural characterization of a GaAs surface wire structure by triple-axis X-ray grazing incidence diffraction
(1998)
Darowski, Nora
;
Paschke, K.
;
Pietsch, Ullrich
;
Wang, K. H.
;
Forchel, Alfred
;
Lübbert, Daniel
;
Baumbach, Tilo
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