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Stömmer, Ralph
(6)
Pietsch, Ullrich
(5)
Geue, Thomas
(3)
Göbel, H.
(2)
Hub, W.
(2)
Barberka, Thomas Andreas
(1)
Englisch, Uwe
(1)
Martin, C. R.
(1)
Meine, Kerstin
(1)
Schultz, M.
(1)
+ weitere
Erscheinungsjahr
1999
(1)
1998
(3)
1997
(1)
1995
(1)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(5)
Dissertation
(1)
Sprache
Englisch
(5)
Deutsch
(1)
Gehört zur Bibliographie
ja
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Institut
Institut für Physik und Astronomie
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X-ray scattering from silicon surfaces and thin oxides on silicon substrates
(1998)
Stömmer, Ralph
Diffuse Röntgenstreuung an LB-Filmen
(1995)
Stömmer, Ralph
;
Zeimer, Ute
;
Pietsch, Ullrich
X-ray scattering from thin organic films and multilayers
(1997)
Pietsch, Ullrich
;
Barberka, Thomas Andreas
;
Geue, Thomas
;
Stömmer, Ralph
Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Martin, C. R.
;
Geue, Thomas
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
X-ray scattering from silicon surfaces
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
Investigation of pH-dependent domain structure of fatty acid salt Langmuir-Blodgett films by means of X-ray diffuse scattering and Atomic Force Microscopy
(1999)
Geue, Thomas
;
Schultz, M.
;
Englisch, Uwe
;
Stömmer, Ralph
;
Pietsch, Ullrich
;
Meine, Kerstin
;
Vollhard, D.
1
bis
6
Verstanden ✔
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