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A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1999)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element
(1999)
Singh, Adit D.
;
Sogomonyan, Egor S.
;
Gössel, Michael
;
Seuring, Markus
A structural approach for space compaction for sequential circuits
(1999)
Seuring, Markus
;
Gössel, Michael
A structural method for output compaction of sequential automata implemented as circuits
(1999)
Seuring, Markus
;
Gössel, Michael
Experimental results for self-dual multi-output combinational circuits
(1999)
Saposhnikov, Vl. V. V. V.
;
Moshanin, Vl.
;
Saposhnikov, V. V.
;
Gössel, Michael
Modified TMR-system with reduced hardware overhead
(1999)
Saposhnikov, Vl. V.
;
Ocheretnij, V.
;
Saposhnikov, V. V.
;
Gössel, Michael
A method of construction of combinational self-checking units with detection of all single faults
(1999)
Saposhnikov, V. V.
;
Saposhnikov, Vl. V.
;
Gössel, Michael
;
Morosov, Andrej
Fault-tolerant self-dual circuits
(1999)
Otscheretnij, Vitalij
;
Saposhnikov, Vl. V.
;
Saposhnikov, V. V.
;
Gössel, Michael
Reduced area overhead of the input party for code-disjoint circuits
(1999)
Morosov, Andrej
;
Gössel, Michael
;
Hartje, Hendrik
A new totally error propagating compactor for arbitrary cores with digital interfaces
(1999)
Gössel, Michael
;
Sogomonyan, Egor S.
;
Morosov, Andrej
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bis
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