English
Home
Suchen
Browsen
Einreichen
Sitemap
Schließen
Filtern
Volltext vorhanden
nein
(5)
Autor*in
Geue, Thomas (5)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
1998 (5)
(entfernen)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(5)
Sprache
Englisch
(5)
Gehört zur Bibliographie
ja
(5)
Institut
Institut für Physik und Astronomie (5)
(entfernen)
5
Treffer
1
bis
5
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
Self-ordering within thin films of poly(olefin sulfone)s.
(1998)
Date, R. W.
;
Fawcett, A. H.
;
Geue, Thomas
;
Haferkorn, J.
;
Malcolm, R. K.
;
Stumpe, Joachim
Grazing incidence x-ray diffraction (GIXD) measurements of uranyl arachidate (UO2A2) LB films
(1998)
Geue, Thomas
;
Katholy, Stefan
;
Reiche, Jürgen
;
Brehmer, Ludwig
;
Caliebe, W.
Aggregation and orientation phenomena in constrained films of Poly(olefine sulfone)s.
(1998)
Haferkorn, J.
;
Geue, Thomas
;
Date, R. W.
;
Fawcett, A. H.
;
Stumpe, Joachim
Electric field induced electron density response of GaAs and ZnSe
(1998)
Stahn, Jochen
;
Pucher, Andreas
;
Geue, Thomas
;
Daniel, A.
;
Pietsch, Ullrich
Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Martin, C. R.
;
Geue, Thomas
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
1
bis
5
Verstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.