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Stömmer, Ralph (3)
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Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Martin, C. R.
;
Geue, Thomas
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
X-ray scattering from silicon surfaces
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
X-ray scattering from silicon surfaces and thin oxides on silicon substrates
(1998)
Stömmer, Ralph
1
bis
3
Verstanden ✔
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