Principles of femtosecond X-ray/optical cross-correlation with X-ray induced transient optical reflectivity in solids

The discovery of ultrafast X-ray induced optical reflectivity changes enabled the development of X-ray/optical cross correlation techniques at X-ray free electron lasers worldwide. We have now linked through experiment and theory the fundamental excitation and relaxation steps with the transient optical properties in finite solid samples. Therefore, we gain a thorough interpretation and an optimized detection scheme of X-ray induced changes to the refractive index and the X-ray/optical cross correlation response. (C) 2015 AIP Publishing LLC.

Metadaten
Verfasserangaben:	Sebastian Eckert ORCiD GND, Martin Beye ORCiD GND, Annette Pietzsch ORCiD, Wilson Quevedo, Markus Hantschmann ORCiD GND, Miguel Ochmann, Matthew Ross, Michael P. Minitti, Joshua J. Turner, Stefan P. Moeller, William F. Schlotter, Georgi L. Dakovski, Munira Khalil, Nils Huse, Alexander Föhlisch ORCiD GND
DOI:	https://doi.org/10.1063/1.4907949
ISSN:	0003-6951
ISSN:	1077-3118
Titel des übergeordneten Werks (Englisch):	Applied physics letters
Verlag:	American Institute of Physics
Verlagsort:	Melville
Publikationstyp:	Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:	Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:	2015
Erscheinungsjahr:	2015
Datum der Freischaltung:	27.03.2017
Band:	106
Ausgabe:	6
Seitenanzahl:	4
Fördernde Institution:	LCLS; Stanford University through the Stanford Institute for Materials and Energy Sciences (SIMES); Lawrence Berkeley National Laboratory (LBNL); University of Hamburg through the BMBF priority program [FSP 301]; Center for Free Electron Laser Science (CFEL); DOE Office of Basic Energy Sciences; Volkswagen Stiftung; Helmholtz-Virtual-Institute [VI 419]; Office of Basic Energy Sciences of the U.S. Department of Energy [DE-SC0002190]; David and Lucille Packard Foundation
Organisationseinheiten:	Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Peer Review:	Referiert