X-ray reflectivity study of an amphiphilic hex-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface
| Verfasserangaben: | Ullrich Pietsch, Stephan Kubowicz, Andreas F. ThünemannORCiD, Thomas Geue, M. D. Watson, N. Tchebotareva, K. Müllen |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
| Erscheinungsjahr: | 2003 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Langmuir. - 19 (2003), 26, S. 10997 - 10999 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Peer Review: | Referiert |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
