Scanning system for high-energy electron diffractometry
| Verfasserangaben: | Anatoly S. Avilov, Alexander K. Kulygin, Ullrich Pietsch, John C. H. Spence, Vladimir G. Tsirelson, Ming J. Zuo |
|---|---|
| URL: | http://www3.interscience.wiley.com/journal/118518709/home?CRETRY=1&SRETRY=0 |
| DOI: | https://doi.org/10.1107/S0021889899006755 |
| ISSN: | 0021-8898 |
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
| Erscheinungsjahr: | 1999 |
| Datum der Freischaltung: | 25.03.2017 |
| Quelle: | Journal of applied crystallography. - ISSN 0021-8898. - 32 (1999), 6, S. 1033 - 1038 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Peer Review: | Referiert |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
