Quantitative disentanglement of coherent and incoherent laser-induced surface deformations by time-resolved x-ray reflectivity
- We present time-resolved x-ray reflectivity measurements on laser excited coherent and incoherent surface deformations of thin metallic films. Based on a kinematical diffraction model, we derive the surface amplitude from the diffracted x-ray intensity and resolve transient surface excursions with sub-angstrom spatial precision and 70 ps temporal resolution. The analysis allows for decomposition of the surface amplitude into multiple coherent acoustic modes and a substantial contribution from incoherent phonons which constitute the sample heating. Published by AIP Publishing.
Verfasserangaben: | Mathias Sander, Jan-Etienne PudellORCiDGND, Marc HerzogORCiDGND, Matias BargheerORCiDGND, R. Bauer, V. Besse, V. Temnov, P. Gaal |
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DOI: | https://doi.org/10.1063/1.5004522 |
ISSN: | 0003-6951 |
ISSN: | 1077-3118 |
Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | Applied physics letters |
Verlag: | American Institute of Physics |
Verlagsort: | Melville |
Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2017 |
Erscheinungsjahr: | 2017 |
Datum der Freischaltung: | 20.04.2020 |
Band: | 111 |
Seitenanzahl: | 4 |
Fördernde Institution: | BMBF [05K16GU3]; Strategie Internationale "NNN-Telecom" de la Region Pays de La Loire, ANR-DFG "PPMI-NANO" [ANR-15-CE24-0032, DFG SE2443/2]; DFG [BA2281/8-1] |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
Peer Review: | Referiert |