Stability of polarization in organic ferroelectric metal-insulator-semiconductor structures
- Dielectric measurements have been carried out on all-organic metal-insulator-semiconductor structures with the ferroelectric polymer poly(vinylidenefluoride-trifluoroethylene) as the gate insulator. It is shown that the polarization states remain stable after poling with accumulation and depletion voltage. However, negative charge trapped at the semiconductor-insulator interface during the depletion cycle masks the negative shift in flatband voltage expected during the sweep to accumulation voltages.
| Verfasserangaben: | Rene Kalbitz, Peter FrübingORCiD, Reimund GerhardORCiDGND, D. M. Taylor |
|---|---|
| DOI: | https://doi.org/10.1063/1.3543632 |
| ISSN: | 0003-6951 |
| Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | Applied physics letters |
| Verlag: | American Institute of Physics |
| Verlagsort: | Melville |
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2011 |
| Erscheinungsjahr: | 2011 |
| Datum der Freischaltung: | 26.03.2017 |
| Band: | 98 |
| Ausgabe: | 3 |
| Seitenanzahl: | 3 |
| Fördernde Institution: | British Council [ARC 1294]; DAAD [D/07/09993]; Fraunhofer Institute for Applied Polymer Research in Potsdam |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Peer Review: | Referiert |
