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X-ray grazing-incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires

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Verfasserangaben:Ullrich Pietsch, A. Hesse, Y. Zhuang, Vaclav Holý, Jochen Stangl, S. Zerlauth, F. Schaffler, Günther Bauer
ISSN:0168-583X
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Erscheinungsjahr:2003
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:Nuclear instruments and methods in physics research : Section B, Beam interactions with materials and atoms. - ISSN 0168-583X. - 200 C (2003), S. 267 - 272
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Peer Review:Referiert
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik
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