X-ray reflectivity study of an amphiphilic hex-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface
Verfasserangaben: | Ullrich Pietsch, Stephan Kubowicz, Andreas F. ThünemannORCiD, Thomas Geue, M. D. Watson, N. Tchebotareva, K. Müllen |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
Erscheinungsjahr: | 2003 |
Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
Quelle: | Langmuir. - 19 (2003), 26, S. 10997 - 10999 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
Peer Review: | Referiert |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |