• Treffer 1 von 1
Zurück zur Trefferliste

Prospects for fast Rydberg gates on an atom chip

  • Atom chips are a promising candidate for a scalable architecture for quantum information processing provided a universal set of gates can be implemented with high fidelity. The difficult part in achieving universality is the entangling two-qubit gate. We consider a Rydberg phase gate for two atoms trapped on a chip and employ optimal control theory to find the shortest gate that still yields a reasonable gate error. Our parameters correspond to a situation where the Rydberg blockade regime is not yet reached. We discuss the role of spontaneous emission and the effect of noise from the chip surface on the atoms in the Rydberg state.

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Suche bei Google Scholar Statistik - Anzahl der Zugriffe auf das Dokument
Metadaten
Verfasserangaben:Matthias M. Müller, Harald R. Haakh, Tommaso Calarco, Christiane P. Koch, Carsten HenkelORCiDGND
DOI:https://doi.org/10.1007/s11128-011-0296-0
ISSN:1570-0755
Titel des übergeordneten Werks (Englisch):Quantum information processing
Verlag:Springer
Verlagsort:New York
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Erscheinungsjahr:2011
Datum der Freischaltung:26.03.2017
Freies Schlagwort / Tag:Cavity quantum electrodynamics; Optimal control; Phase gate; Rydberg atoms
Band:10
Ausgabe:6
Seitenanzahl:22
Erste Seite:771
Letzte Seite:792
Fördernde Institution:Federal Ministry of Education and Research BMBF; Ministry of Science and Culture MWK of the Federal State of Baden-Wurttemberg); Deutsche Forschungsgemeinschaft [Ko 2301/2]; German-Israeli Foundation for Scientific Cooperation [982-192.14/2007]; European Union
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Peer Review:Referiert
Verstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.