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Characterization of InGaAs single quantum wells buried in GaAs[001] by grazing incidence diffraction
(1997)
Rose, Dirk
;
Pietsch, Ullrich
;
Zeimer, Ute
Identification of a buried single quantum well within surface structurized semiconductors using depth resolved x-ray grazing-incidence diffraction
(1997)
Darowski, Nora
;
Paschke, K.
;
Pietsch, Ullrich
;
Wang, K. H.
;
Forchel, Alfred
;
Baumbach, Tilo
;
Zeimer, Ute
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2
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