English
Home
Suchen
Browsen
Einreichen
Sitemap
Schließen
Filtern
Volltext vorhanden
nein (1)
(entfernen)
Autor*in
Batke, Edwin (1)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
1997
(1)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Gehört zur Bibliographie
ja
(1)
Institut
Institut für Physik und Astronomie (1)
(entfernen)
1
Treffer
1
bis
1
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
100
10
20
50
100
Characterization of lateral semiconductor nano structures by means of x-ray grazing-incidence diffraction
(1997)
Paschke, K.
;
Geue, Thomas
;
Barberka, Thomas Andreas
;
Bolm, A.
;
Pietsch, Ullrich
;
Rösch, M.
;
Batke, Edwin
;
Faller, F.
;
Kerkel, K.
;
Oshiniwo, J.
;
Forchel, Alfred
1
bis
1
Verstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.