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Analysis of the strain distribution in lateral nanostructures for interpreting photoluminescence data
(2000)
Pietsch, Ullrich
;
Darowski, Nora
;
Ulyanenkov, A.
;
Grenzer, Jörg
;
Wang, K. H.
;
Forchel, Alfred
Grazing-incidence diffraction strain analysis of a laterally-modulated multiquantum well system produced by focused-ion-beam implantation
(2000)
Grenzer, Jörg
;
Darowski, Nora
;
Pietsch, Ullrich
;
Daniel, A.
;
Reithmaier, Johann-Peter
;
Rennon, Siegfried
;
Forchel, Alfred
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