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Atomistic origin of the inverse piezoelectric effect in alpha-SiO2 and alpha-GaPO4
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Davaasambuu, Jav
;
Pucher, Andreas
;
Kochin, V.
Double pinhole diffraction of white synchrotron radiation
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Leitenberger, Wolfram
;
Wendrock, Horst
;
Bischoff, Lothar
;
Panzner, Tobias
;
Grenzer, Jörg
;
Pucher, Andreas
Evidence of a density grating under light induced formation of surface relief gratings at polymers containing azobenzene moieties
(2003)
Pietsch, Ullrich
X-ray grazing-incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Hesse, A.
;
Zhuang, Y.
;
Holý, Vaclav
;
Stangl, Jochen
;
Zerlauth, S.
;
Schaffler, F.
;
Bauer, Günther
X-ray scattering amplitude of an atom in a permanent external electric field
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Tsirelson, Vladimir G.
;
Gorfan, S. V.
Thermal diffuse scattering in grazing incidence diffraction
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Grigorian, Souren A.
;
Grenzer, Jörg
;
Vartanyants, Ivan A.
Coherence experiments at the energy-dispersive reflectometry beamline at BESSY II
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Panzner, Tobias
;
Leitenberger, Wolfram
;
Grenzer, Jörg
;
Bodenthin, Th.
;
Geue, Thomas
;
Möhwald, Helmuth
Grazing-incidence diffraction study of strain-modulated single quantum well nanostructures
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Grigorian, Souren A.
;
Grenzer, Jörg
;
Feranchuk, S.
;
Zeimer, Ute
Energy dispersive x-ray reflectivity technique to study thermal properties of polymer films
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Bhattacharya, M. K.
;
Mukherjee, M.
;
Sanyal, M. K.
;
Geue, Thomas
;
Grenzer, Jörg
Influence of lateral patterning geometry on lateral carrier confinement in strain-modulated InGaAs- nanostructures
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Zeimer, Ute
;
Grenzer, Jörg
;
Grigorian, Souren A.
;
Fricke, J.
;
Gramlich, S.
;
Bugge, F.
;
Weyers, Markus
;
Trankle, G.
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