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In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction
(2000)
Zhuang, Y.
;
Pietsch, Ullrich
;
Stangl, Jochen
;
Holý, Vaclav
;
Darowski, Nora
;
Grenzer, Jörg
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
Structural and optical properties of Si/Si{1-x}Ge{x} wires
(2000)
Zhuang, Y.
;
Schelling, Christoph
;
Stangl, Jochen
;
Penn, C.
;
Senz, S.
;
Schäffler, Friedrich
;
Roche, T.
;
Daniel, A.
;
Grenzer, Jörg
;
Pietsch, Ullrich
;
Bauer, Günther
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