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Autor*in
Zerlauth, S. (1)
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Erscheinungsjahr
2000 (1)
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Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Gehört zur Bibliographie
ja
(1)
Institut
Institut für Physik und Astronomie
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10
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50
100
In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction
(2000)
Zhuang, Y.
;
Pietsch, Ullrich
;
Stangl, Jochen
;
Holý, Vaclav
;
Darowski, Nora
;
Grenzer, Jörg
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
1
bis
1
Verstanden ✔
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