English
Home
Suchen
Browsen
Einreichen
Sitemap
Schließen
Filtern
Volltext vorhanden
nein
(6)
Autor*in
Zerlauth, S. (6)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2003
(1)
2000
(1)
1999
(3)
1998
(1)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(6)
Sprache
Englisch (6)
(entfernen)
Gehört zur Bibliographie
ja
(6)
Institut
Institut für Physik und Astronomie (6)
(entfernen)
6
Treffer
1
bis
6
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
In-plane strain and strain relaxation in laterally patterned Si/SiGe quantum dots and wire arrays
(1998)
Darowski, Nora
;
Lübbert, Daniel
;
Pietsch, Ullrich
;
Zhuang, Y.
;
Zerlauth, S.
;
Bauer, Günther
Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high-resolution x-ray diffrcation and grazing-incidence diffraction
(1999)
Zhuang, Y.
;
Holý, Václav
;
Stangl, Jochen
;
Darhuber, A.
;
Mikulik, P.
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
;
Darowski, Nora
;
Lübbert, Daniel
;
Pietsch, Ullrich
HRXRD and GID investigations of a self-organized SiGe quantum dot multilayer
(1999)
Holý, Václav
;
Darhuber, A.
;
Stangl, Jochen
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
;
Darowski, Nora
;
Lübbert, Daniel
;
Pietsch, Ullrich
;
Vavra, I.
Lateral arrangement of self-assembled quantum dots in an SiGe/Si superlattice
(1999)
Holý, Václav
;
Stangl, Jochen
;
Zerlauth, S.
;
Bauer, Günther
;
Darowski, Nora
;
Lübbert, Daniel
;
Pietsch, Ullrich
In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction
(2000)
Zhuang, Y.
;
Pietsch, Ullrich
;
Stangl, Jochen
;
Holý, Vaclav
;
Darowski, Nora
;
Grenzer, Jörg
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
X-ray grazing-incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Hesse, A.
;
Zhuang, Y.
;
Holý, Vaclav
;
Stangl, Jochen
;
Zerlauth, S.
;
Schaffler, F.
;
Bauer, Günther
1
bis
6
Verstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.