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Wissenschaftlicher Artikel
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Gehört zur Bibliographie
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Schlagworte
Design for testability (DFT)
(1)
X-masking
(1)
X-values
(1)
test response compaction
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Low Cost Concurrent Error Detection for the Advanced Encryption Standart
(2003)
Wu, K.
;
Karri, R.
;
Kuznetsov, Grigory
;
Gössel, Michael
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A scan based concrrent BIST approach for low cost on-line testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1999)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A new self-checking sum-bit duplicated carry-select adder
(2003)
Sogomonyan, Egor S.
;
Marienfeld, Daniel
;
Ocheretnij, V.
;
Gössel, Michael
Concurrently self-testing embedded checkers for ultra-reliable fault-tolerant systems
(1996)
Sogomonyan, Egor S.
;
Gössel, Michael
A new parity preserving multi-input signature analyser
(1995)
Sogomonyan, Egor S.
;
Gössel, Michael
Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element
(1999)
Singh, Adit D.
;
Sogomonyan, Egor S.
;
Gössel, Michael
;
Seuring, Markus
A structural approach for space compaction for concurrent checking and BIST
(1998)
Seuring, Markus
;
Gössel, Michael
;
Sogomonyan, Egor S.
A structural approach for space compaction for concurrent checking and BIST
(1997)
Seuring, Markus
;
Gössel, Michael
;
Sogomonyan, Egor S.
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bis
10
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