The confocal plane grating spectrometer at BESSY II

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At BESSY II a confocal plane grating spectrometer for resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) is currently under commissioning. The new endstation operates with a source size of 4 x 1 mu m(2) provided by its dedicated beamline. The RIXS-spectrometer covers an energy range from 50 eV to 1000 eV, providing a resolving power E/Delta E of 5000-15,000. The beamline allows full polarization control and gives a photon flux of up to 7 x 10(14) photons/s/0.1 A/0.1%bandwidth by offering a resolving power E/Delta E of 4000-12,000.

Metadaten
Verfasserangaben:	Rene Könnecke, R. Follath, N. Pontius, J. Schlappa, F. Eggenstein, T. Zeschke, P. Bischoff, J. -S. Schmidt, T. Noll, C. Trabant, S. Schreck, Ph. Wernet, S. Eisebitt, F. Senf, Christian Schuessler-Langeheine ORCiD, A. Erko, Alexander Föhlisch ORCiD GND
DOI:	https://doi.org/10.1016/j.elspec.2012.11.003
ISSN:	0368-2048
Titel des übergeordneten Werks (Englisch):	Journal of electron spectroscopy and related phenomena : the international journal on theoretical and experimental aspects of electron spectroscopy
Verlag:	Elsevier
Verlagsort:	Amsterdam
Publikationstyp:	Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:	Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:	2013
Erscheinungsjahr:	2013
Datum der Freischaltung:	26.03.2017
Freies Schlagwort / Tag:	High transmission micro focus beamline; Plane grating emission spectrometer; Resonant inelastic X-ray scattering; Soft X-ray monochromator
Band:	188
Seitenanzahl:	7
Erste Seite:	133
Letzte Seite:	139
Organisationseinheiten:	Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Peer Review:	Referiert