Rene Könnecke, R. Follath, N. Pontius, J. Schlappa, F. Eggenstein, T. Zeschke, P. Bischoff, J. -S. Schmidt, T. Noll, C. Trabant, S. Schreck, Ph. Wernet, S. Eisebitt, F. Senf, Christian Schuessler-Langeheine, A. Erko, Alexander Föhlisch
- At BESSY II a confocal plane grating spectrometer for resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) is currently under commissioning. The new endstation operates with a source size of 4 x 1 mu m(2) provided by its dedicated beamline. The RIXS-spectrometer covers an energy range from 50 eV to 1000 eV, providing a resolving power E/Delta E of 5000-15,000. The beamline allows full polarization control and gives a photon flux of up to 7 x 10(14) photons/s/0.1 A/0.1%bandwidth by offering a resolving power E/Delta E of 4000-12,000.
MetadatenVerfasserangaben: | Rene Könnecke, R. Follath, N. Pontius, J. Schlappa, F. Eggenstein, T. Zeschke, P. Bischoff, J. -S. Schmidt, T. Noll, C. Trabant, S. Schreck, Ph. Wernet, S. Eisebitt, F. Senf, Christian Schuessler-LangeheineORCiD, A. Erko, Alexander FöhlischORCiDGND |
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DOI: | https://doi.org/10.1016/j.elspec.2012.11.003 |
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ISSN: | 0368-2048 |
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Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | Journal of electron spectroscopy and related phenomena : the international journal on theoretical and experimental aspects of electron spectroscopy |
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Verlag: | Elsevier |
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Verlagsort: | Amsterdam |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
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Sprache: | Englisch |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2013 |
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Erscheinungsjahr: | 2013 |
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Datum der Freischaltung: | 26.03.2017 |
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Freies Schlagwort / Tag: | High transmission micro focus beamline; Plane grating emission spectrometer; Resonant inelastic X-ray scattering; Soft X-ray monochromator |
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Band: | 188 |
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Seitenanzahl: | 7 |
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Erste Seite: | 133 |
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Letzte Seite: | 139 |
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Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
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Peer Review: | Referiert |
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