English
Home
Suchen
Browsen
Einreichen
Sitemap
Schließen
Organisationseinheiten
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Institut für Informatik und Computational Science
Filtern
Volltext vorhanden
nein
(12)
Autor*in
Gössel, Michael (12)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
1998 (12)
(entfernen)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(11)
Monographie/Sammelband
(1)
Sprache
Englisch
(10)
Deutsch
(2)
Gehört zur Bibliographie
ja
(12)
Institut
Institut für Informatik und Computational Science
(12)
12
Treffer
1
bis
12
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
50
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
Built-in self-Test with an alternating output
(1998)
Bogue, Ted
;
Gössel, Michael
;
Jürgensen, Helmut
;
Zorian, Yervant
On-line Test auf der Grundlage eines die Parität erhaltenden Signaturanalysators
(1998)
Gössel, Michael
;
Sogomonyan, Egor S.
Self-Checking circuits with unidiectionally independent outputs
(1998)
Morosov, Andrej
;
Saposhnikov, V. V.
;
Gössel, Michael
Fault-tolerant self-dual circuits with error detection by parity- and group parity prediction
(1998)
Otscheretnij, Vitalij
;
Gössel, Michael
;
Saposhnikov, Vl. V.
;
Saposhnikov, V. V.
A new design method for self-checking unidirectional combinational circuits
(1998)
Saposhnikov, V. V.
;
Morosov, Andrej
;
Saposhnikov, Vl. V.
;
Gössel, Michael
Design of Fault-Tolerant Circuits by self-dual Duplication
(1998)
Saposhnikov, Vl. V.
;
Otscheretnij, Vitalij
;
Saposhnikov, V. V.
;
Gössel, Michael
Self-dual duplication for error detection
(1998)
Saposhnikov, Vl. V.
;
Saposhnikov, V. V.
;
Dimitriev, Alexej
;
Gössel, Michael
A structural approach for space compaction for sequential circuits
(1998)
Seuring, Markus
;
Gössel, Michael
Ein strukturelles Verfahren zur Kompaktierung von Schaltungsausgaben für online-Fehlererkennungen und Selbstests
(1998)
Seuring, Markus
;
Gössel, Michael
;
Sogomonyan, Egor S.
A structural approach for space compaction for concurrent checking and BIST
(1998)
Seuring, Markus
;
Gössel, Michael
;
Sogomonyan, Egor S.
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A scan based concrrent BIST approach for low cost on-line testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
1
bis
12
Verstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.