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Autor*in
Stömmer, Ralph (6)
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Erscheinungsjahr
1999
(1)
1998
(3)
1997
(1)
1995
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Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
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Dissertation
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Englisch
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X-ray scattering from thin organic films and multilayers
(1997)
Pietsch, Ullrich
;
Barberka, Thomas Andreas
;
Geue, Thomas
;
Stömmer, Ralph
X-ray scattering from silicon surfaces and thin oxides on silicon substrates
(1998)
Stömmer, Ralph
X-ray scattering from silicon surfaces
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
Investigation of pH-dependent domain structure of fatty acid salt Langmuir-Blodgett films by means of X-ray diffuse scattering and Atomic Force Microscopy
(1999)
Geue, Thomas
;
Schultz, M.
;
Englisch, Uwe
;
Stömmer, Ralph
;
Pietsch, Ullrich
;
Meine, Kerstin
;
Vollhard, D.
Diffuse Röntgenstreuung an LB-Filmen
(1995)
Stömmer, Ralph
;
Zeimer, Ute
;
Pietsch, Ullrich
Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Martin, C. R.
;
Geue, Thomas
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
1
bis
6
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