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Hub, W. (2)
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1998
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X-ray scattering from silicon surfaces
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
(1998)
Stömmer, Ralph
;
Martin, C. R.
;
Geue, Thomas
;
Göbel, H.
;
Hub, W.
;
Pietsch, Ullrich
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