Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element
| Verfasserangaben: | Adit D. Singh, Egor S. Sogomonyan, Michael GösselGND, Markus Seuring |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
| Erscheinungsjahr: | 1999 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Proceedings / International test conference 1999. - Piscataway : IEEE Service Center, 1999. - S. 227 - 235 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| Publikationsweg: | Open Access |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |
