Built-in self test mit multi-mode scannable memory elementen
| Verfasserangaben: | Markus Seuring |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
| Erscheinungsjahr: | 1999 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Sytemen <11,1999, Potsdam>. - Cottbus : Uni.- Bibl., 1999. - S. 22 - 25 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| Publikationsweg: | Open Access |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |
