Highly efficient test response compaction using a hierarchical x-masking technique

This paper presents a highly effective compactor architecture for processing test responses with a high percentage of x-values. The key component is a hierarchical configurable masking register, which allows the compactor to dynamically adapt to and provide excellent performance over a wide range of x-densities. A major contribution of this paper is a technique that enables the efficient loading of the x-masking data into the masking logic in a parallel fashion using the scan chains. A method for eliminating the requirement for dedicated mask control signals using automated test equipment timing flexibility is also presented. The proposed compactor is especially suited to multisite testing. Experiments with industrial designs show that the proposed compactor enables compaction ratios exceeding 200x.

Metadaten
Verfasserangaben:	Thomas Rabenalt, Michael Richter, Frank Pöhl, Michael Gössel GND
DOI:	https://doi.org/10.1109/TCAD.2011.2181847
ISSN:	0278-0070
Titel des übergeordneten Werks (Englisch):	IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag:	Inst. of Electr. and Electronics Engineers
Verlagsort:	Piscataway
Publikationstyp:	Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:	Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:	2012
Erscheinungsjahr:	2012
Datum der Freischaltung:	26.03.2017
Freies Schlagwort / Tag:	Design for testability (DFT); X-masking; X-values; test response compaction
Band:	31
Ausgabe:	6
Seitenanzahl:	8
Erste Seite:	950
Letzte Seite:	957
Fördernde Institution:	MAYA, German Federal Ministry for Education and Research, [01M3063A]
Organisationseinheiten:	Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science
Peer Review:	Referiert
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:	Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik