Masking of X-Values by use of a hierarchically configurable register
- In this paper we consider masking of unknowns (X-values) for VLSI circuits. We present a new hierarchical method of X-masking which is a major improvement of the method proposed in [4], called WIDE1. By the method proposed, the number of observable scan cells is optimized and data volume for X-masking can be significantly reduced in comparison to WIDEL This is demonstrated for three industrial designs. In cases where all X-values have to be masked the novel approach is especially efficient.
| Verfasserangaben: | Thomas Rabenalt, Michael Goessel, Andreas Leininger |
|---|---|
| DOI: | https://doi.org/10.1007/s10836-010-5179-2 |
| ISSN: | 0923-8174 |
| Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | Journal of electronic testing : theory and applications |
| Verlag: | Springer |
| Verlagsort: | Dordrecht |
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2011 |
| Erscheinungsjahr: | 2011 |
| Datum der Freischaltung: | 26.03.2017 |
| Freies Schlagwort / Tag: | Hierarchically configurable mask register; Masking of X-values |
| Band: | 27 |
| Ausgabe: | 1 |
| Seitenanzahl: | 11 |
| Erste Seite: | 31 |
| Letzte Seite: | 41 |
| Fördernde Institution: | German Federal Ministry for Education and Research (BMBF) [01M3063A] |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| Peer Review: | Referiert |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |
