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Binary phase masks for easy system alignment and basic aberration sensing with spatial light modulators in STED microscopy

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Verfasserangaben:André KlaußGND, Florian Conrad, Carsten HilleORCiDGND
DOI:https://doi.org/10.1038/s41598-017-15967-5
ISSN:2045-2322
Pubmed ID:https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/29147005
Titel des übergeordneten Werks (Englisch):Scientific reports
Verlag:Nature Publ. Group
Verlagsort:London
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
Erscheinungsjahr:2017
Datum der Freischaltung:20.04.2020
Band:7
Seitenanzahl:11
Fördernde Institution:German Research Foundation [1850/30001355]; Federal Ministry of Education and Research ("ALSComBi") [03IPT517Y]
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Chemie
Peer Review:Referiert
Verstanden ✔
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