High-resolution lattice parameter measurement by x-ray grazing incidence diffraction: Application to the interface of silicon on sapphire
| Verfasserangaben: | T. H. Metzger, Ullrich Pietsch, E. Garstein |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
| Erscheinungsjahr: | 1999 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Physica status solidi / A. - 174 (1999), S. 345 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
