Double cell upsets mitigation through triple modular redundancy
- A triple modular redundancy (TMR) based design technique for double cell upsets (DCUs) mitigation is investigated in this paper. This technique adds three extra self-voter circuits into a traditional TMR structure to enable the enhanced error correction capability. Fault-injection simulations show that the soft error rate (SER) of the proposed technique is lower than 3% of that of TMR. The implementation of this proposed technique is compatible with the automatic digital design flow, and its applicability and performance are evaluated on an FIFO circuit.
Verfasserangaben: | Yuanqing Li, Anselm BreitenreiterORCiD, Marko AndjelkovicORCiDGND, Junchao ChenORCiDGND, Milan Babic, Miloš KrstićORCiDGND |
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DOI: | https://doi.org/10.1016/j.mejo.2019.104683 |
ISSN: | 0026-2692 |
ISSN: | 1879-2391 |
Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | Microelectronics Journal |
Verlag: | Elsevier |
Verlagsort: | Oxford |
Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Datum der Erstveröffentlichung: | 19.12.2019 |
Erscheinungsjahr: | 2020 |
Datum der Freischaltung: | 22.03.2023 |
Freies Schlagwort / Tag: | Double cell upsets (DCUs); Triple modular redundancy (TMR) |
Band: | 96 |
Aufsatznummer: | 104683 |
Seitenanzahl: | 8 |
Fördernde Institution: | European UnionEuropean Commission [640243] |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
DDC-Klassifikation: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 50 Naturwissenschaften |
Peer Review: | Referiert |