Double cell upsets mitigation through triple modular redundancy
- A triple modular redundancy (TMR) based design technique for double cell upsets (DCUs) mitigation is investigated in this paper. This technique adds three extra self-voter circuits into a traditional TMR structure to enable the enhanced error correction capability. Fault-injection simulations show that the soft error rate (SER) of the proposed technique is lower than 3% of that of TMR. The implementation of this proposed technique is compatible with the automatic digital design flow, and its applicability and performance are evaluated on an FIFO circuit.
| Verfasserangaben: | Yuanqing Li, Anselm BreitenreiterORCiD, Marko AndjelkovicORCiDGND, Junchao ChenORCiDGND, Milan Babic, Miloš KrstićORCiDGND |
|---|---|
| DOI: | https://doi.org/10.1016/j.mejo.2019.104683 |
| ISSN: | 0026-2692 |
| ISSN: | 1879-2391 |
| Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | Microelectronics Journal |
| Verlag: | Elsevier |
| Verlagsort: | Oxford |
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Datum der Erstveröffentlichung: | 19.12.2019 |
| Erscheinungsjahr: | 2020 |
| Datum der Freischaltung: | 22.03.2023 |
| Freies Schlagwort / Tag: | Double cell upsets (DCUs); Triple modular redundancy (TMR) |
| Band: | 96 |
| Aufsatznummer: | 104683 |
| Seitenanzahl: | 8 |
| Fördernde Institution: | European UnionEuropean Commission [640243] |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| DDC-Klassifikation: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 50 Naturwissenschaften |
| Peer Review: | Referiert |
