A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
Verfasserangaben: | Egor S. Sogomonyan, Adit D. Singh, Michael GösselGND |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
Erscheinungsjahr: | 1998 |
Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
Quelle: | Proceedings / 16th IEEE VLSI Test Symposium. - Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 1998. - S. 324 - 331 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
Publikationsweg: | Open Access |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |