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Masking of X-Values by use of a hierarchically configurable register
- In this paper we consider masking of unknowns (X-values) for VLSI circuits. We present a new hierarchical method of X-masking which is a major improvement of the method proposed in [4], called WIDE1. By the method proposed, the number of observable scan cells is optimized and data volume for X-masking can be significantly reduced in comparison to WIDEL This is demonstrated for three industrial designs. In cases where all X-values have to be masked the novel approach is especially efficient.
Verfasserangaben: | Thomas Rabenalt, Michael Goessel, Andreas Leininger |
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DOI: | https://doi.org/10.1007/s10836-010-5179-2 |
ISSN: | 0923-8174 |
Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | Journal of electronic testing : theory and applications |
Verlag: | Springer |
Verlagsort: | Dordrecht |
Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2011 |
Erscheinungsjahr: | 2011 |
Datum der Freischaltung: | 26.03.2017 |
Freies Schlagwort / Tag: | Hierarchically configurable mask register; Masking of X-values |
Band: | 27 |
Ausgabe: | 1 |
Seitenanzahl: | 11 |
Erste Seite: | 31 |
Letzte Seite: | 41 |
Fördernde Institution: | German Federal Ministry for Education and Research (BMBF) [01M3063A] |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
Peer Review: | Referiert |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |