- Treffer 1 von 1
Highly efficient test response compaction using a hierarchical x-masking technique
- This paper presents a highly effective compactor architecture for processing test responses with a high percentage of x-values. The key component is a hierarchical configurable masking register, which allows the compactor to dynamically adapt to and provide excellent performance over a wide range of x-densities. A major contribution of this paper is a technique that enables the efficient loading of the x-masking data into the masking logic in a parallel fashion using the scan chains. A method for eliminating the requirement for dedicated mask control signals using automated test equipment timing flexibility is also presented. The proposed compactor is especially suited to multisite testing. Experiments with industrial designs show that the proposed compactor enables compaction ratios exceeding 200x.
Verfasserangaben: | Thomas Rabenalt, Michael Richter, Frank Pöhl, Michael GösselGND |
---|---|
DOI: | https://doi.org/10.1109/TCAD.2011.2181847 |
ISSN: | 0278-0070 |
Titel des übergeordneten Werks (Englisch): | IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems |
Verlag: | Inst. of Electr. and Electronics Engineers |
Verlagsort: | Piscataway |
Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2012 |
Erscheinungsjahr: | 2012 |
Datum der Freischaltung: | 26.03.2017 |
Freies Schlagwort / Tag: | Design for testability (DFT); X-masking; X-values; test response compaction |
Band: | 31 |
Ausgabe: | 6 |
Seitenanzahl: | 8 |
Erste Seite: | 950 |
Letzte Seite: | 957 |
Fördernde Institution: | MAYA, German Federal Ministry for Education and Research, [01M3063A] |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
Peer Review: | Referiert |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |