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Checking combinational circuits by the method of logic complement

  • Design of fully self-testing combinational circuits was considered. A theorem defining the conditions for guaranteed logic complement-based design of fully self-testing circuit was proved. Examples were presented

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Verfasserangaben:Michael Goessel, A. V. Morozov, V. V. Sapozhnikov, Vl. V. Sapozhaikov
ISSN:0005-1179
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Erscheinungsjahr:2005
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:Automation and Remote Control. - ISSN 0005-1179. - 66 (2005), 8, S. 1336 - 1346
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science
Peer Review:Referiert
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik
Verstanden ✔
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