Built-in self test mit multi-mode scannable memory elementen
| Author details: | Markus Seuring |
|---|---|
| Publication type: | Article |
| Language: | English |
| Year of first publication: | 1999 |
| Publication year: | 1999 |
| Release date: | 2017/03/24 |
| Source: | Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Sytemen <11,1999, Potsdam>. - Cottbus : Uni.- Bibl., 1999. - S. 22 - 25 |
| Organizational units: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| Publishing method: | Open Access |
| Institution name at the time of the publication: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |
