A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
| Verfasserangaben: | Egor S. Sogomonyan, Adit D. Singh, Michael GösselGND |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
| Erscheinungsjahr: | 1998 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Proceedings / 16th IEEE VLSI Test Symposium. - Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 1998. - S. 324 - 331 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| Publikationsweg: | Open Access |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |
