X-ray diffraction analysis of strain relaxation in free standing and buried GaAs/GaInAs/GaAs SQW lateral structures
Verfasserangaben: | Nora Darowski, Ullrich Pietsch, K. H. Wang, Alfred Forchel, W. Shen, S. Kycia |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
Erscheinungsjahr: | 1998 |
Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
Quelle: | Thin solid films. - 236 (1998), S. 271 - 276 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |