X-ray reflectivity analysis of thin complex Langmuir-Blodgett films
| Verfasserangaben: | P. Poloucek, Ullrich Pietsch, Thomas Geue, Christian Symietz, Gerald BrezesinskiORCiDGND |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2001 |
| Erscheinungsjahr: | 2001 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Journal of physics / D. - 34 (2001) 4, S. 450 - 458 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
