X-ray scattering from thin organic films and multilayers
Verfasserangaben: | Ullrich Pietsch, Thomas Andreas Barberka, Thomas Geue, Ralph Stömmer |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1997 |
Erscheinungsjahr: | 1997 |
Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
Quelle: | Il nuovo cimento della Societa Italiana di Fisica / D. - 19 (1997), 2/4, S. 393 - 402 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |