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X-ray scattering from thin organic films and multilayers

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Verfasserangaben:Ullrich Pietsch, Thomas Andreas Barberka, Thomas Geue, Ralph Stömmer
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:1997
Erscheinungsjahr:1997
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:Il nuovo cimento della Societa Italiana di Fisica / D. - 19 (1997), 2/4, S. 393 - 402
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik
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