Identification of a buried single quantum well within surface structurized semiconductors using depth resolved x-ray grazing-incidence diffraction
| Verfasserangaben: | Nora Darowski, K. Paschke, Ullrich Pietsch, K. H. Wang, Alfred Forchel, Tilo BaumbachORCiD, Ute Zeimer |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1997 |
| Erscheinungsjahr: | 1997 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Journal of physics / D. - 30 (1997), L., S. 55 - 59 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
