Structural characterization of a GaAs surface wire structure by triple-axis X-ray grazing incidence diffraction
| Verfasserangaben: | Nora Darowski, K. Paschke, Ullrich Pietsch, K. H. Wang, Alfred Forchel, Daniel Lübbert, Tilo BaumbachORCiD |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
| Erscheinungsjahr: | 1998 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Physica / B. - 248 (1998), S. 104 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
