Sensitivity analysis of ellipsometry applied to uniaxial optical films
| Verfasserangaben: | C. Flueraru, Sigurd Schrader, V. Zauls, H. Motschmann |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2000 |
| Erscheinungsjahr: | 2000 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Thin solid films. - 379 (2000), 1/2, S. 15 - 22 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
