Structural characterization of a GaAs surface wire structure by triple-axis X-ray grazing incidence diffraction
Verfasserangaben: | Nora Darowski, K. Paschke, Ullrich Pietsch, K. H. Wang, Alfred Forchel, Daniel Lübbert, Tilo BaumbachORCiD |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
Erscheinungsjahr: | 1998 |
Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
Quelle: | Physica / B. - 248 (1998), S. 104 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |