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Structural and optical properties of Si/Si{1-x}Ge{x} wires

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Verfasserangaben:Y. Zhuang, Christoph Schelling, Jochen Stangl, C. Penn, S. Senz, Friedrich Schäffler, T. Roche, A. Daniel, Jörg Grenzer, Ullrich Pietsch, Günther Bauer
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Erscheinungsjahr:2000
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:Thin Solid Films. - 369 (2000), 1-2, S. 409 - 413
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik
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